装置
低温測定装置
液体ヘリウム温度(1.5 K)までの電気伝導測定装置(３台)
ヘリウム３温度(0.5 K)までの電気伝導測定装置
高圧(15 kbar)までの電気伝導測定装置
熱起電力測定装置
比熱(熱緩和法)測定装置
11 T超伝導磁石＋２軸回転機構
電子スピン共鳴装置 JEOL JES-TE100
マイクロ波 Xバンド(9 GHz)
発生磁場 〜0.65 T
温度可変範囲 3 〜 300 K
四軸型単結晶X線回折計 理学 AFC7R
半導体特性評価システム Keithley 4200-SCS
半導体デバイス用プローバ 常温常圧・真空低温(〜20 K)
有機半導体用インクジェットプリンタ
パリレンコータ
膜圧測定装置
合成実験室
質量分析計・赤外分光光度計
電気化学的結晶成長装置
恒温槽
